optris 推出全新高溫雙色紅外測溫儀
溫度范圍300°C至3500°C
溫度監控和質量控制
Optris的PI 640i紅外攝像機配備了全新顯微鏡光學系統
“電子元件的結構越來越小，設計也非常緊湊。Optris推出適用于PI 640i紅外熱像儀的新型顯微鏡光學元件，即使用于芯片級結構，也能以高精度的幾何分辨率精確測量溫度
高溫導致電子元件和組件的壽命縮短。這是由于許多半導體材料在高溫下加速老化。例如，增加接觸電阻導致電氣連接不良就會造成這種情況。然而，在處理器等復雜的半導體元件內部，溫度也可能升高。
在微米級別的分辨率下進行溫度測量
搭載新型2倍放大率的MO2X顯微鏡光學元件，Optris的PI 640i紅外熱像儀現在甚至能夠捕捉復雜結構的紅外圖像。
為了精確測量溫度，需要4×4像素（MFOV），因此現在可以測量尺寸僅為34 μm的物體。也就是說，即使是芯片級的微小結構，也能夠進行精確分析。80 mK的熱分辨率對于該光學元件而言是相當出色的。新型光學元件的調焦功能使其能夠在距離被測物體15 mm的范圍內工作。
由于PI系列紅外熱像儀上的光學元件可輕松更換，因此該系統可以靈活用于各種測量任務。搭配隨附的帶微調功能高質量顯微鏡支架，可輕松檢測微電子組件。紅外熱像儀的最大分辨率為640 x 480像素，幀率為32 Hz，即使提高到125 Hz，PI 640i仍能以640 x 120像素進行成像。
交付范圍包括免許可證PIX Connect分析軟件；此外，還提供完整的軟件開發工具包（SDK）。
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